（摘自：助聽器）
學習目標：
掌握聽性腦干反應的基本概念 原理與相關參數
能進行皮膚脫脂和電極放置能記錄并確定腦干電位各波閾值和潛伏期并進行分析
一· 概述1. 聽性腦干反應的概念:
聽性腦干飯反應（AUDITORY BRAINSTEM RESPONSE, ABR) 由JESETT在1971年首先提出，他指出，當用短聲刺激受試者后，從受試者頭皮記錄到的一組潛伏期在10MS以內的反應波，可能來源于腦干。目前認為，聽性腦干反應是由短持續音誘發，潛伏期在20MS以內，最多由7個反應波構成的一組誘發電位；這些反應波主要產生于腦干和聽覺有關的聽神經核團，被命名為聽性腦干反應。在中等程度的短聲刺激下，得到的這組反應波總共有7個，按照出現的先后順序，采用羅馬數字命名為波 I ~ 波VII.
2.反應波的發生源波I：出現率高，是分析ABR的主要參數波，來源于聽神經。波II: 出現率低，來自于聽神經顱內段及耳蝸核波III: 出現率高，是分析ABR的主要參數波，來源于上橄欖核。但也有資料表明，耳蝸核及斜方體與波III有關。波IV:出現率低，經常與波V融合，來源于外側丘系及其核團（腦橋中上段）。波V: 最穩定，也是波幅最高的波，來源于下丘及外側丘系上方。波VI和波VII: 在正常人中出現率很低，臨床中較少見，它們分別來自于內膝體和聽放線
總的來說，ABR出現的所有反應波的波幅較低，為0.01~1uV.
二· 測試相關參數1.測試常用的刺激聲常用的刺激聲為短聲（CLICK),另外還有短純音（TONE BURST) 或短音（TONE-PIP)等。由于短聲ABR應用最廣泛，研究最透明，所以，本節中所有內容除非特別指出，均為短聲ABR的測試結果。
（1）短聲的特點（摘自：北京助聽器）
短聲由方波脈沖沖擊耳機或揚聲器的振動膜片產生
短聲具有以下特點：1）持續時間短暫.短聲的持續時間一般為0.1ms,所以，它是引起聽神經同步興奮的最佳刺激信號。2）頻率特性差。短聲的頻譜非常寬，從125HZ~8KHZ都有能量分布。實際頻譜與耳機 揚聲器 受試者和中耳特性都有關。3）有極性。當耳機膜片初始振動的方向朝向鼓膜時，產生的短聲為密波短聲；離開鼓膜時為疏波短聲。當疏密交替出現時為交替短聲。
（2）短聲的計量長純音信號的強度是聽力測試的標準分貝（dB HL), 但短的刺激聲卻沒有這樣的標準，因為它的持續時間太短，無法用聲級計進行校準。將耳機 耦合腔 麥克風 聲級計和示波器連接在一起，通過耳機給出短聲信號并在示波器上測出其波峰-波峰（或基線-波峰）的電壓；再由耳機發出純音信號，調節純音的聲強，使其波峰-波峰（或基線-波峰）的電壓值與短聲相同，此時用聲壓計測得純音聲壓級的數值即是短聲的波峰-波峰（或基線-波峰）的波峰等效聲壓級（pe SPL).短聲的另一聲強標準是正常聽力級（nHL).像純音測試一樣選擇一組正常聽力的年輕人，用短聲刺激得到他們的行為聽閾并求均，即得到一組正常聽力者剛剛聽到的短聲聽閾，并將此時的短聲dB數值定為零。所以0dB nHL意味著一組正常聽力者剛剛聽到的短聲強度。《聽力計 第三部分：用于測聽與神經耳科的短持續聽覺測試信號》（GB/T 7341.3-1998)對此有具體規定。
此外，還有感覺級(SL),是針對某一受試者的實際聽閾而定，如某人的短聲聽閾是40dB peSPL,這是他剛剛能聽到的聲音，所以其感覺級為0dB SL.
2.與測試有關的軟硬件設置（1）電極目前多用三導和四導連接。用四導連接時，記錄電極放置在顱頂，兩側乳突或耳垂作為參考電極，鼻根部位接地電極（四導聯）；用三導連接時，記錄電極不變，測試耳乳突為參考電極，對側耳乳突為接地電極。（2）放大器
由于ABR各反應波的幅值都非常低，為微伏級，所以必須將反應信號放大才便于觀察分析，一般放大10萬倍即可。
（3）濾波器（摘自：峰力助聽器）
濾波設置可直接影響ABR的測試結果。對于成人，當刺激強度較高時，ABR反應波的頻譜主要在500~1000HZ,當刺激強度接近反應閾值時，頻譜集中在250HZ左右，ABR的反應波頻譜隨著刺激聲頻率的降低及年齡降低而降低。所以，對于兒童，將濾波的高通降低，可以增加反應波振幅，提高信噪比。但降低高通會使低頻噪聲干擾增強，因此，臨床上除非有特殊的設置，一般采用高通的截止頻率為100HZ,低于100HZ時肌電干擾明顯；高于100HZ，反應慢成分會失真。低通的截止頻率一般為1500~3000HZ,超過3000HZ，高頻噪聲明顯。一般商用測試儀都是這樣設定的。 但有研究顯示，降低濾波器的高通截止頻率，如將100HZ降低至30HZ，可以增加低頻強度刺激時的反應波幅度，在嬰兒中效果更明顯。但此時應注意避免電源頻率的干擾。
（4）偽跡剔除
偽跡包含外源性偽跡和內源性偽跡，如外來電磁干擾，為外源性偽跡；心電 肌電干擾等為內源性偽跡。這些干擾電波的強度較高，所以，一般把超過25uV的電波設定為偽跡干擾波，儀器自動予以剔除。
（5）疊加和平均技術
由于一次刺激引出的反應波幅值都很低，不容易被觀察和分析，所以，在實際應用中，都是采用多次刺激然后求平均的技術。因為每次刺激都會引出一次和刺激聲有鎖時關系的反應波，即反應波都是在刺激后一相對固定的時間出現，其極性變化都是有規律的；而背景腦電活動的電波是雜亂的，極性變化是無規律的。 當多次刺激后，把每次刺激所記錄到的電波進行疊加，這些有規律的誘發電波相加，其規律性的極性使得電波越發清晰；而無規律的腦電波相加時，各個電波之間由于極性的不規律導致互相抵消；通過多次疊加就會使反應波清晰可見，平均后就得到了一次刺激的結果.
（6）刺激次數和重復率選定
疊加技術需要多次刺激，刺激重復率越慢，反應波越清晰，但測試時間越長；加快重復率會使波振幅變小，潛伏期和峰潛伏期都延長。臨床多用10~20次/S的刺激率，這種刺激率可以保證得到清晰無失真的反應波。
ABR信噪比與刺激次數的平方根成正比。900次的刺激使信噪比改善30倍，2500次的刺激使信噪比改善50倍。也就是說，當刺激次數增加近3倍時，信噪比信噪比改善不到一倍。所以過多的增加刺激次數并無必要，刺激次數達500~1000次的時候，信噪比改善最為明顯。因此，一半采用測試強度刺激次數為1024或2048次（避免是50HZ的倍數，以減少電源干擾），就可以得到理想的波形。對不同的個體，有時需要增加刺激次數才能得到理想的結果。
（7）分析時間高強度刺激時，成人的所有反應波都在10ms以內出現，隨著刺激強度降低，反應波的潛伏期延長，尤其是嬰兒，波V后的負波明顯延長，耳這個延長的負波在反應較低時可能是唯一的信息，因此分析時間應適當延長。
（8）測試環境測試房間要盡量安靜，有條件的要在隔聲測聽室內進行，必要時設置屏蔽室。有研究顯示，在耳機下噪聲達36~46dB SPL時，可以影響波V的潛伏期，由于耳機本身可以對環境噪聲產生30dB SPL的衰減，所以環境噪聲只要不超過76dB SPL就不會對測試結果產生明顯影響。因此，測試時應遠離有電磁干擾的環境，測試儀應連接專用地線，測試室內要關閉手機。
（摘自：助聽器）
學習目標：
掌握聽性腦干反應的基本概念 原理與相關參數
能進行皮膚脫脂和電極放置
能記錄并確定腦干電位各波閾值和潛伏期并進行分析
一· 概述
1. 聽性腦干反應的概念:
聽性腦干飯反應（AUDITORY BRAINSTEM RESPONSE, ABR) 由JESETT在1971年首先提出，他指出，當用短聲刺激受試者后，從受試者頭皮記錄到的一組潛伏期在10MS以內的反應波，可能來源于腦干。目前認為，聽性腦干反應是由短持續音誘發，潛伏期在20MS以內，最多由7個反應波構成的一組誘發電位；這些反應波主要產生于腦干和聽覺有關的聽神經核團，被命名為聽性腦干反應。在中等程度的短聲刺激下，得到的這組反應波總共有7個，按照出現的先后順序，采用羅馬數字命名為波 I ~ 波VII.
2.反應波的發生源
波I：出現率高，是分析ABR的主要參數波，來源于聽神經。
波II: 出現率低，來自于聽神經顱內段及耳蝸核
波III: 出現率高，是分析ABR的主要參數波，來源于上橄欖核。但也有資料表明，耳蝸核及斜方體與波III有關。
波IV:出現率低，經常與波V融合，來源于外側丘系及其核團（腦橋中上段）。
波V: 最穩定，也是波幅最高的波，來源于下丘及外側丘系上方。
波VI和波VII: 在正常人中出現率很低，臨床中較少見，它們分別來自于內膝體和聽放線
總的來說，ABR出現的所有反應波的波幅較低，為0.01~1uV.
二· 測試相關參數
1.測試常用的刺激聲
常用的刺激聲為短聲（CLICK),另外還有短純音（TONE BURST) 或短音（TONE-PIP)等。由于短聲ABR應用最廣泛，研究最透明，所以，本節中所有內容除非特別指出，均為短聲ABR的測試結果。
（1）短聲的特點（摘自：北京助聽器）
短聲由方波脈沖沖擊耳機或揚聲器的振動膜片產生
短聲具有以下特點：
1）持續時間短暫.短聲的持續時間一般為0.1ms,所以，它是引起聽神經同步興奮的最佳刺激信號。
2）頻率特性差。短聲的頻譜非常寬，從125HZ~8KHZ都有能量分布。實際頻譜與耳機 揚聲器 受試者和中耳特性都有關。
3）有極性。當耳機膜片初始振動的方向朝向鼓膜時，產生的短聲為密波短聲；離開鼓膜時為疏波短聲。當疏密交替出現時為交替短聲。
（2）短聲的計量
長純音信號的強度是聽力測試的標準分貝（dB HL), 但短的刺激聲卻沒有這樣的標準，因為它的持續時間太短，無法用聲級計進行校準。將耳機 耦合腔 麥克風 聲級計和示波器連接在一起，通過耳機給出短聲信號并在示波器上測出其波峰-波峰（或基線-波峰）的電壓；再由耳機發出純音信號，調節純音的聲強，使其波峰-波峰（或基線-波峰）的電壓值與短聲相同，此時用聲壓計測得純音聲壓級的數值即是短聲的波峰-波峰（或基線-波峰）的波峰等效聲壓級（pe SPL).短聲的另一聲強標準是正常聽力級（nHL).像純音測試一樣選擇一組正常聽力的年輕人，用短聲刺激得到他們的行為聽閾并求均，即得到一組正常聽力者剛剛聽到的短聲聽閾，并將此時的短聲dB數值定為零。所以0dB nHL意味著一組正常聽力者剛剛聽到的短聲強度。《聽力計 第三部分：用于測聽與神經耳科的短持續聽覺測試信號》（GB/T 7341.3-1998)對此有具體規定。
此外，還有感覺級(SL),是針對某一受試者的實際聽閾而定，如某人的短聲聽閾是40dB peSPL,這是他剛剛能聽到的聲音，所以其感覺級為0dB SL.
2.與測試有關的軟硬件設置
（1）電極
目前多用三導和四導連接。用四導連接時，記錄電極放置在顱頂，兩側乳突或耳垂作為參考電極，鼻根部位接地電極（四導聯）；用三導連接時，記錄電極不變，測試耳乳突為參考電極，對側耳乳突為接地電極。
（2）放大器
由于ABR各反應波的幅值都非常低，為微伏級，所以必須將反應信號放大才便于觀察分析，一般放大10萬倍即可。
（3）濾波器（摘自：峰力助聽器）
濾波設置可直接影響ABR的測試結果。對于成人，當刺激強度較高時，ABR反應波的頻譜主要在500~1000HZ,當刺激強度接近反應閾值時，頻譜集中在250HZ左右，ABR的反應波頻譜隨著刺激聲頻率的降低及年齡降低而降低。所以，對于兒童，將濾波的高通降低，可以增加反應波振幅，提高信噪比。但降低高通會使低頻噪聲干擾增強，因此，臨床上除非有特殊的設置，一般采用高通的截止頻率為100HZ,低于100HZ時肌電干擾明顯；高于100HZ，反應慢成分會失真。低通的截止頻率一般為1500~3000HZ,超過3000HZ，高頻噪聲明顯。一般商用測試儀都是這樣設定的。 但有研究顯示，降低濾波器的高通截止頻率，如將100HZ降低至30HZ，可以增加低頻強度刺激時的反應波幅度，在嬰兒中效果更明顯。但此時應注意避免電源頻率的干擾。
（4）偽跡剔除
偽跡包含外源性偽跡和內源性偽跡，如外來電磁干擾，為外源性偽跡；心電 肌電干擾等為內源性偽跡。這些干擾電波的強度較高，所以，一般把超過25uV的電波設定為偽跡干擾波，儀器自動予以剔除。
（5）疊加和平均技術
由于一次刺激引出的反應波幅值都很低，不容易被觀察和分析，所以，在實際應用中，都是采用多次刺激然后求平均的技術。因為每次刺激都會引出一次和刺激聲有鎖時關系的反應波，即反應波都是在刺激后一相對固定的時間出現，其極性變化都是有規律的；而背景腦電活動的電波是雜亂的，極性變化是無規律的。 當多次刺激后，把每次刺激所記錄到的電波進行疊加，這些有規律的誘發電波相加，其規律性的極性使得電波越發清晰；而無規律的腦電波相加時，各個電波之間由于極性的不規律導致互相抵消；通過多次疊加就會使反應波清晰可見，平均后就得到了一次刺激的結果.
（6）刺激次數和重復率選定
疊加技術需要多次刺激，刺激重復率越慢，反應波越清晰，但測試時間越長；加快重復率會使波振幅變小，潛伏期和峰潛伏期都延長。臨床多用10~20次/S的刺激率，這種刺激率可以保證得到清晰無失真的反應波。
ABR信噪比與刺激次數的平方根成正比。900次的刺激使信噪比改善30倍，2500次的刺激使信噪比改善50倍。也就是說，當刺激次數增加近3倍時，信噪比信噪比改善不到一倍。所以過多的增加刺激次數并無必要，刺激次數達500~1000次的時候，信噪比改善最為明顯。因此，一半采用測試強度刺激次數為1024或2048次（避免是50HZ的倍數，以減少電源干擾），就可以得到理想的波形。對不同的個體，有時需要增加刺激次數才能得到理想的結果。
（7）分析時間
高強度刺激時，成人的所有反應波都在10ms以內出現，隨著刺激強度降低，反應波的潛伏期延長，尤其是嬰兒，波V后的負波明顯延長，耳這個延長的負波在反應較低時可能是唯一的信息，因此分析時間應適當延長。
（8）測試環境
測試房間要盡量安靜，有條件的要在隔聲測聽室內進行，必要時設置屏蔽室。有研究顯示，在耳機下噪聲達36~46dB SPL時，可以影響波V的潛伏期，由于耳機本身可以對環境噪聲產生30dB SPL的衰減，所以環境噪聲只要不超過76dB SPL就不會對測試結果產生明顯影響。因此，測試時應遠離有電磁干擾的環境，測試儀應連接專用地線，測試室內要關閉手機。